طراحی/سیستم/قابلیت اطمینان/صلاحیت پروازی/آزمایشهای پروازی/...
سید مهدی نوری؛ مهدی عالمی رستمی؛ قاسم کاهه
دوره 7، شماره 2 ، تیر 1402، ، صفحه 17-28
چکیده
در این مقاله بازده و قابلیت اطمینان مبدل الکترونیک قدرت AC/DC دو طبقه با بکارگیری الگوریتم ژنتیک چند هدفه (NSGA- II)، به منظور کمینهسازی تابع هدف انجام میشود. متغیرهای تابع هدف، بازدهی و قابلیت اطمینان میباشند. برای ارزیابی قابلیت اطمینان از مدل مارکوف استفاده میشود و در آن خطاهای اتصال کوتاه و مدار باز برای المانهای مدار درنظرگرفته ...
بیشتر
در این مقاله بازده و قابلیت اطمینان مبدل الکترونیک قدرت AC/DC دو طبقه با بکارگیری الگوریتم ژنتیک چند هدفه (NSGA- II)، به منظور کمینهسازی تابع هدف انجام میشود. متغیرهای تابع هدف، بازدهی و قابلیت اطمینان میباشند. برای ارزیابی قابلیت اطمینان از مدل مارکوف استفاده میشود و در آن خطاهای اتصال کوتاه و مدار باز برای المانهای مدار درنظرگرفته میشود. همچنین نرخ خرابی المانهای مدار به کمک معادلات موجود در استاندارد نظامی (MIL- HDBK- 217)، محاسبه میگردد. برای بهینهسازی ابتدا متغیرهای ورودی الگوریتم ژنتیک شامل مقدار اندوکتانسها و خازنها، فرکانس سوئیچینگ هر طبقه، نسبت تبدیل ترانسفورماتور و ولتاژ لینک DC به عنوان ورودی تابع هدف تعیین میشوند تا به کمک آنالیز حساسیت پارامترهایی که تغییراتشان روی تابع هدف تاثیر عمده ندارد، حذف شوند. سپس پارامترهای الگوریتم NSGA- II شامل تعداد تکرار، جمعیت و احتمال تقاطع و جهش برای محاسبه دقیق متغیرهای مدار، تعیین شده و ارزیابی قابلیت اطمینان در قالب میانگین زمان تا خرابی (MTTF) با در نظر گرفتن پارامتر بازدهی صورت میپذیرد. نتایج بیانگر افزایش قابلیت اطمینان با حفظ بازدهی بالا برای مبدل است.